關(guān)于射源到膠片距離的最佳實踐是什么？

如上一節(jié)所述，通過增加焦點到膠片的距離F，可以減少Ug的影響。
電磁輻射的一個特性是其強度與距離的平方成反比，即為人熟知的“平方反比定律”。X射線和伽馬射線都遵循這一定律。
輻射在單位膠片面積上的強度與源到膠片距離（s-f-d）的平方成反比。

如圖6-11所示，在射源的2F距離處，射線束覆蓋的面積（b）是距離F處面積（a）的四倍。因此，面積（b）的單位面積強度只會是面積（a）值的1/4。這意味著，在其他參數(shù)相同的情況下，2F距離處的曝光時間必須增加四倍才能獲得相同的膠片密度。

這一原則顯然有其（經(jīng)濟和實用）局限性，在超出這些局限性之后，進一步增加s-f-d就不再可行。

輻射能量（kV）的選擇

一旦選擇了合適的射源到膠片距離，就可以從曝光表中確定正確的千伏電壓（見第9章）。
選擇精確千伏數(shù)的重要性隨著考慮的千伏數(shù)電壓范圍而大不相同。對于150 kV以下的X射線，選擇相當關(guān)鍵，在更低的千伏數(shù)時更為關(guān)鍵。
應(yīng)用的千伏特數(shù)在（EN）標準中有規(guī)定。

表2-11給出了鋁、鋼或塑料物體射線照相的實用經(jīng)驗值。

示例：

15毫米鋼：100 + 15 x 8 = 220 kV
12毫米鋁：50 + 12 x 2 = 74 kV
10毫米塑料：20 + 10 x 0.2 = 22 kV
在200-400 kV范圍內(nèi)，只有顯著的電壓變化，比如30-40 kV，才會導(dǎo)致缺陷可辨識性的明顯差異。

伽馬源的選擇

由于無法改變伽馬射線源發(fā)射的輻射能量，因此需要指出可用每種放射性同位素令人滿意地檢查的厚度范圍。
上限由商業(yè)上可獲得的源強度和最大可容忍的曝光時間決定；下限由對比度降低和相關(guān)的影像質(zhì)量降低決定。
因此，下限取決于所需的缺陷可辨識度。當這與X射線設(shè)備可實現(xiàn)的效果相比不足時，可以選擇另一種較低輻射能量的同位素。

表3-11顯示了通常推薦用于各種伽馬源的厚度范圍。該表適用于鋼。如果為了方便起見，也可以使用伽馬射線照射要用X射線檢查的薄樣品，但應(yīng)該理解，得到的射線照片與X射線照片相比將質(zhì)量較差。