DXR S140: 全新的數(shù)字平板探測(cè)器
我們?cè)诖朔浅８吲d地宣布，全新的DXR S140 數(shù)字平板探測(cè)器加入到我們Phoenix Microme|x Neo 和Nanome|x Neo系列產(chǎn)品中。這款創(chuàng)新的探測(cè)器不僅保持了我們?cè)袛?shù)字平板探測(cè)器卓越的實(shí)時(shí)成像性能，還顯著提升了其高分辨率的檢測(cè)性能，滿足了電子行業(yè)對(duì)更高分辨率和精度日益增長(zhǎng)的需求。
Phoenix Microme|x Neo和Nanome|x Neo 系列產(chǎn)品提供了各種功能獨(dú)特的探測(cè)器，滿足您特殊的應(yīng)用體驗(yàn)：
- 85μm 分辨率的 DXR S85 探測(cè)器，性價(jià)比之王，專用于小型元器件和 PCB/PCBA 檢測(cè)。
- 200μm 分辨率的 DXR 250RT探測(cè)器，具備主動(dòng)冷卻功能，動(dòng)態(tài)范圍極高，圖像質(zhì)量出色，能夠確?？焖偾壹?xì)致的實(shí)時(shí)檢測(cè)。
- 139μm 分辨率的 DXR S140 具有超快的成像速度，可滿足高集成度微電子檢測(cè)的全面需求。
- 100μm 分辨率的大尺寸 DXR S100 Pro 探測(cè)器，出色的探測(cè)能力和檢測(cè)效率，尤其適用于半導(dǎo)體和大尺寸樣品檢測(cè)。
我們一直在不斷突破數(shù)字成像的極限。準(zhǔn)備好，來(lái)體驗(yàn)我們?nèi)碌腄XR S140數(shù)字平板探測(cè)器帶給您的前所未有的卓越成像質(zhì)量和精度吧！
